天枢星设备检测仪ML850两用涂层测厚

ML-涂层测厚仪(两用)

概述涂层测厚仪采用磁性、涡流两种测厚方法,可无损伤地检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)本仪器广泛地应用于一切金属表面涂层。1)本仪器符合以下标准GB/T-磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量(磁性方法)GB/T-非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量(涡流方法)JB/T-磁性和涡流式覆层厚度测厚仪2)特点:便携设计,手掌大小采用DSP芯片,具有快速的测量能力人性化设计,简单操作。在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质,无需手动转换两种校准方式,零点校准和二点校准宽角度LCD液晶显示公制和英制单位转换具有电源欠电压提示操作过程有蜂鸣声提示具有自动关机功能3)测量原理a)磁性法当测头与覆层接触时,测头与磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆层的存在,使磁路磁阻发生变化,通过测量其变化量,可测得其覆层的厚度。b)涡流法利用高频交变电流线圈中产生一磁场,当测头与金属接触时,金属基体上会产生涡流,并对测头具有反馈作用,通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度涂层测厚仪技术参数1.测量范围:0-um2.工作电源:两节五号电池3.测量精误差:零点校准±(1.5+3%H);二点校准±H+1.54.环境温度0-40℃5.相对湿度≤85%6.z小基体10*10mm7.z小曲率凸5mm;凹5mm8.Z薄基体:0.4mm9.重量:克(含电池)10.尺寸mm*74mm*32mm




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